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编号 仪器名称 规格 仪器照片
501 X射线衍射仪 D/max2550VB3+/PC
  技术指标
   主要技术指标:
 1、光角测角仪:2θ/θ;2、最小步进:10/10000;3、设定重复性:10/10000;4、步进幅度:0.01--900;5、最大计数:100万CPS。
 主要附件:
 1、纤维附件;2、多用途样品台;3、高温样品台;4、高分辨平行光路测角系统。
 功能/应用范围:
 主要应用于材料物相的定性和定量分析,简单物相的结构分析,晶体取向分析等。

编号 仪器名称 规格 仪器照片
502 红外光谱仪/红外显微镜 EQUINOX 55/HYPERON 2000
  技术指标
   主要技术指标:
 光谱范围:7,500-370cm-1,分辨率:优于0.5cm-1,波数精度:优于0.01cm-1,透光率精度:优于0.1%T, 信/噪比:高于36,000:1(峰-峰值),DTGS检测器,4cm-1分辨率,谱区范围:2200-2100cm-1, 1分钟测试。
 主要附件:
 红外显微镜、粉末压片机。
 功能/应用范围:
 中红外范围内,可以测量粉末、液体、薄膜、橡胶等可以制样的样品,以及不能制样的微量样品的红外谱图。

编号 仪器名称 规格 仪器照片
503 激光粒度仪 LS230
  技术指标
   主要技术指标:
 测试范围:0.04μm~2000μm。
 主要附件:
 通用样品台,危险样品台。
 功能/应用范围:
 测试粉体、悬浮液的粒度分布曲线,某些特定粒径的含量,粉体的比表面积等。

编号 仪器名称 规格 仪器照片
504 原子力显微镜 SPA-300HV
  技术指标
   主要技术指标:
 除了在大气和液体及电化学环境下,本仪器具有真空状态下的真空工作室,可在10-7Torr水平的高真空环境或不同气氛环境中对样品进行AFM测量。加热系统可对样品在800℃下进行处理,可对样品进行低至-120℃高至300℃的温度范围内进行测量 。扫描范围:XY:20um;Z:2um;分辨率:XY:0.2nm;Z:0.01nm。
 主要附件:
 稳压电源,打印机,刻录机。
 功能/应用范围:
 标准测量功能:AFM,DFM,Phase mode,FFM,Vector Scan,Force vs.Distance Curve;物理性能测量:VE-AFM/VE-DFM,LM-FFM,Adhesion,Mode,Kevin Force Microscope/KFM;液相中测量:AFM/DFM。

编号 仪器名称 规格 仪器照片
505 红外热像仪 TH1101
  技术指标
   主要技术指标:
 温度范围:-500C--20000C;聚焦范围:20cm--∞;灵敏度:0.10C
 主要附件:
 
 功能/应用范围:
 检测材料或建筑物表面的红外放射,通过反射强度的分布分析物质的性能。

编号 仪器名称 规格 仪器照片
506 数字图像分析仪 Q600
  技术指标
   主要技术指标:
 放大倍数:1000;最大样品尺寸:100mm
 主要附件:
 
 功能/应用范围:
 测定物相的长度、周长、直径、面积以及颗粒计算。

编号 仪器名称 规格 仪器照片
507 流变仪 ARES
  技术指标
   主要技术指标:
 1、温度范围:室温--5000C;2、扭矩:0.02--200g.cm及2--2000g.cm;3、法向力:2--2000g
 主要附件:
 循环器、空压机、冷干机
 功能/应用范围:
 高分子材料(片状固体、液体)

编号 仪器名称 规格 仪器照片
508 扫描电子显微镜 S-2360N
  技术指标
   主要技术指标:
 分辨率:4nm;放大倍数:20-200000;最大样品尺寸:φ150mm
 主要附件:
 能谱仪
 功能/应用范围:
 材料表面行貌分析;材料微区成分分析。

编号 仪器名称 规格 仪器照片

509

X射线荧光光谱仪 SRS3400
  技术指标
   主要技术指标:
 可测元素范围:O8-U92;可测浓度范围:0.0001-100%;最大功率:4kW。
 主要附件:
 熔样机、压片机。
 功能/应用范围:
 样品中元素(O8-U92)的定量、半定量及定性分析。样品形态:块状固体、粉末、液体、薄膜及不规则零件等。

编号 仪器名称 规格 仪器照片
510 等离子光谱仪 ICP2070
  技术指标
   主要技术指标:
 1.00m真空单位色仪;
波长范围:160~800nm
 主要附件:
 
 功能/应用范围:
 ICP2070等离子体发射光谱仪是多元素顺序扫描分析光谱仪,可同时测定60多种金属元素,及S、P等非金属元素。可用于水、土壤、矿物、食品、石油、化工产品的样品分析。其检测限为ppb-ppm级。
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