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编号 设备名称 规格 设备照片
11
 大规模集成电路测试系统  V7100+  
  技术指标
  主要技术指标:
 Number of Pins 128I/O;Test frequency 10MHz;Overall timing accuracy <10ps; Parallel measurement capability 2 DUTS; Data failure memory 64KW/PIN; Vil -2.0V~8V; Vih 0to 11V;Level select 4Levels;Comparator specifications(input voltage -12.0V~+12.0V; Inpedance >10兆欧); Device power supply:(Output voltage -36V~36V,Measured current ±30V,±0.4A;±36V,±0.1A,Number of units 4,User power supply output voltage/current:(+5V,1.0A;+12v,1.0A;+15V,1.0A;-15V,1.0A;+13V,1.0A(For relays);+10Vand -2V,1.0A); VSIM:(Voltage resolution 122uV/244uV/1.22mV,Current range:±5uA/50uA/5mA/50mA/500mA,Current clamp 110% current range);ISVM:(Force current range:±5uA/50uA/5mA/50mA/500mA,Current resolution 122pA/1.22nA/12.2nA.....12.2uA,Voltage measurement range:4V/8V/36V,Voltage resolution 122uV/244uV/1.22mV); Seguence pattern generator(Control memory 1MW/PIN,Pattern memory 1MW/PIN,I/O memory 2KW/PIN,Mask memory 2KW/PIN)
功能/应用范围:
 数字信号集成电路芯片、圆晶片测试

编号 设备名称 规格 设备照片
 12 T6672大规模集成电路测试系统   T6672  
  技术指标
  主要技术指标:
 Number of Pins 256I/O ; Test frequency 125/256/500MHz; Overall timing accuracy
+-350ps; Timing Resolution 31.25ps,(8ps for Acmeasurement); Number of edges 6/PI
N; Pattern multiplex Available; Pin multiplex Available; Timing set 32;Test func
tions Match,multi-clock,double-speed clock,frequency measurement,subroutine; STE
capacity 64MW; Number of MDC units 1 unit/16channel; Number of UDC units 4 unit
s; Device power supply units 16 units,-6~8v; Timing edge 6/pin; Minimum test cyc
le 8ns; Maximum test cycle 1ms; Output voltage amplitude 0.2v to 8.0v Vp-p; Outp
ut voltage range Vih:-1.8V to 6.0V,Vil:-2.5Vto 5.0V; Output voltage resolution 2
mV; Output impedance 50欧±2欧(Iout <=20mA),50欧±5欧(Iout>20mA).......
功能/应用范围:
 数字、数模混合信号集成电路芯片、圆晶片测试

编号 设备名称 规格 设备照片
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全自动探针台  P-8XL   
  技术指标
  主要技术指标:
 Wafer Specifications(Sizes:4,5,6,8inches,Thickness: 150-1000um,Die Size:350-75000um);Probe Card Sizes(Outline:Max. 300mm Diameter,Thickness: Max.50 mm,Weight:Max. 10kg);Probe Alignment Range(X(R):100MM,Y(Back ):100mm);Probe Unit Specifications(Positioning accuracy quarantee range(x/y):±4um(z)±3um,Contact accuracy quarantee when using ASU:x/y=±4um z=±5um,Card holder attachment parallelism: 25um/Max.∮200); XYStage(XYprobing area: From Insert Ring Center, X:±118mm,Y:+230mm, -110mm,Accuracy:+-2um,Control resolution:0.4um,Maximum speed:200mm/sec); Zstage(Z stroke:77mm,Contact point setting area:75.3mm,Accuracy:Max.±2um,Max./Mum speed:40mm/sec,Overshool:Max.4um(500um at rise),Withstand load:40kg,Zstage rigidity:R90mm position:Horizontal rigidity 9.0um/10kg,Vertical rigidity 15.0um/10kg,Loading center: Vertical rigidity 9.0um/10kg)。
主要附件:
 TEL 测试头自动装置系统
功能/应用范围:
 晶圆片全自动测试

编号 设备名称 规格 设备照片
14
ETS770大规模集成电路测试系统(B)  ETS770   
  技术指标
  主要技术指标:
 通道数64I/O ; 测试频率 50MHz; 总时间精度 50ps; 2同测; 向量深度 1MW/PIN; Vil:-2.0V~6V; Vih (Vil+500mV)to 6.5V; 分辨率 50mVSink/Souce current ±50mA; 输入电压 -2.0V~+6.5V; 阻抗 >10兆欧; 输出电流 IOH: -1mAto -20mA,IOL: 1mAto 20mA;Device 电源:STD(0 to 6V,2Amax,分辨率10mV, 精度:±50mV),Number of units 1 STD,2Optional; VSIM:(电压设置范围 8V,电压分辨率 5mV,电流范围 ±150mA,电流分辨率 100pA/1nA/10nA/100nA/1uA/10uA);ISVM:(Force current range ±150mA,电流分辨率 100pA/1nA/10nA/100nA/1uA/10uA,电压测量范围 8V,电压分辨率 5mV,测量精度 ±10mV,±2.5欧*Imeas)。  
功能/应用范围:
 数字、模数混合信号集成电路芯片、圆晶片测试。

编号 设备名称 规格 设备照片
15
全自动探针台(A)  UF200   
  技术指标
  主要技术指标:
 Wafer Specifications(Sizes:5,6,8inches,Thickness: 150-1000um,Die Size:0.25~100mm,graduation 0.1um);Total accuracy: Within 4um; Chuck Z control(Control accuracy: ±2um,Overtravel: 0~500um); X/Y ares(probinh ares:120mm,Max.speed:200mm/sec,Resolution:0.5um); Zaxis(Full stroke:69mm,Standard stroke at probing:0.5mm,Speed:35msec/0.5mm,Resolution:0.375um);θaxis(Adjustable range: ±5°,Resolution:0.00028°(approx.0.5um on 200mm wafer edge));
主要附件:
 测试头自动装置系统
 功能/应用范围:
 晶圆片全自动测试

编号 设备名称 规格 设备照片
16
电机单体性能测试装置  特制   
  技术指标
  主要技术指标:
 试验对象:适用电源驱动方式为50Hz、60Hz单相,电压范围110V/220V;50Hz三相,电压范围380V;交流变频驱动;直流变频驱动的电动机测功。测试项目:电机最大力矩、启动力矩、转速、启动电流、电机机械效率。
主要附件:
 日本HITACHI制交流变频电源J300-075LF5。日本YOKOGAWA制WT-2030数字功率计。
功能/应用范围:
 试验对象:适用电源驱动方式为50Hz、60Hz单相,电压范围110V/220V;50Hz三相,电压范围380V;交流变频驱动;直流变频驱动的电动机测功。测试项目:电机最大力矩、启动力矩、转速、启动电流、电机机械效率

编号 设备名称 规格 设备照片
17
 空调器用压缩机寿命试验装置 SHQ-400L2   
  技术指标
   主要技术指标:
 试验对象:适用冷媒为R22、R407C、R410A,电源驱动方式为50Hz、60Hz单相,电压范围110V/220V;50Hz三相,电压范围380V;交流变频驱动;直流变频驱动的电动机-压缩机。试验项目:加速寿命试验、启动耐久性试验等(GB/T 15765-1995),压缩机制冷量范围1000W~10000W。
 主要附件:
 日本HITACHI制交流变频电源J300-075LF5。
 功能/应用范围:
 试验对象:适用冷媒为R22、R407C、R410A,电源驱动方式为50Hz、60Hz单相,电压范围110V/220V;50Hz三相,电压范围380V;交流变频驱动;直流变频驱动的电动机-压缩机。试验项目:加速寿命试验、启动耐久性试验等(GB/T 15765-1995),压缩机制冷量范围1000W~10000W。

编号 设备名称 规格 设备照片
18
高解像度X光透射装置   MUJ-12F  
  技术指标
  主要技术指标:
 X光管球功率:120KV;透视能力:约t=4mm以下厚度钢板;透视工件重量:20kg以下。使用数字积分成像技术使图像更清晰。
主要附件:
 日本SONY照片打印机
功能/应用范围:
 X光管球功率:120KV;透视能力:约t=4mm以下厚度钢板。使用数字积分成像技术使图像更清晰。

编号 设备名称 规格 设备照片
19
空调器用压缩机水份测试装置   SHUV-22C  
  技术指标
  主要技术指标:
 试验对象:全封闭式压缩机的整机残余水份含量测试(GB/T 15765-1995)。
主要附件:
 广州ESPEC制PHH-201高温烘箱。
功能/应用范围:
 试验对象:全封闭式压缩机的整机残余水份含量测试(GB/T 15765-1995)。

编号 设备名称 规格 设备照片
20
压缩机寿命实验装置   SHLL-15E  
  技术指标
  主要技术指标:
 试验对象:适用冷媒为R22、R407C、R410A,电源驱动方式为50Hz、60Hz单相,电压范围110V/220V;50Hz三相,电压范围380V;交流变频驱动;直流变频驱动的电动机-压缩机。适用压缩机制冷量范围1000W~10000W。
主要附件:
 日本HITACHI制交流变频电源J300-075LF5。
功能/应用范围:
 试验项目:加速寿命试验、启动耐久性试验等(GB/T 15765-1995),压缩机制冷量范围1000W~10000W。
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